科研神器| TEM、SEM、AFM、STM、KPFM各类显微分析工具书合集

电镜显微分析是一种强大的工具,用于观察微观结构和成分分布。推荐以下几本:

1. “Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science” by David B. Williams and C. Barry Carter – 这本书是关于透射电子显微镜的经典教材,涵盖了电子显微镜的原理、技术和应用。

2. “Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis” by Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, et al. – 这本书介绍了扫描电子显微镜和X射线微区分析的原理和技术,是一个全面的参考资料。

3. “Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology” by S. J. B. Reed – 这本书专注于电子显微探针分析和扫描电子显微镜在地质学领域的应用,适合地质学家和相关领域的研究人员阅读。

这些书籍将帮助你深入了解电镜显微分析的原理、技术及其在不同领域的应用。

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包含:原子力显微镜、透射电子显微镜、共聚焦显微镜、扫描探针显微镜、扫描隧道显微镜、扫描电子显微镜和开尔文探针力显微镜的分析工具书pdf版。

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