科研干货|透射电子显微镜学巨著电子书

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscopy, TEM）是一种使用电子束而不是光束进行成像的显微镜技术。它能以极高的分辨率观察材料的微观结构，包括晶体的原子排列、晶体缺陷、晶界、表面形貌等。与光学显微镜相比，TEM具有更高的分辨率和更大的深度探测能力。

TEM的工作原理是通过一个电子枪产生高速电子束，该束穿过被观察样品并透射到投影屏上，形成高分辨率的图像。样品通常是非透明的，因此需要非常薄的样品制片技术，例如利用离子蚀刻或机械磨削来制备非常薄的样品切片。

TEM具有许多应用领域，包括材料科学、纳米科学、生物学、化学等。利用TEM，可以观察和分析材料的晶体结构、相变过程、纳米颗粒的尺寸和形状、材料的电子结构等。此外，TEM还被广泛应用于纳米器件、材料改性和新材料研究等领域。

需要注意的是，TEM对样品的制备要求较高，同时也需要对设备进行维护和操作。因此，针对TEM技术的学习和研究需要具备相应的专业知识和实践经验。

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包含：760页《Transmission Electron Microscopy》透射电镜电子书